Gráficos de Controle X e S com tamanho de amostra variável e análise de capacidade para dados não-normais: um estudo aplicativo

Resumo

O presente artigo apresenta uma proposição de um método para aplicação de cartas de controle X e S com tamanhos de amostras variáveis e o cálculo de índices de capacidade para dados não-normais em um processo industrial. Quando o tamanho das amostras varia, utilizam-se médias e desvios-padrão ponderados, tendo o tamanho de cada amostra como pesos para estimar a média e o desvio-padrão gerais do processo, respectivamente. Para esse caso, as cartas de controle apresentam uma particularidade: os limites de controle são descontínuos, sendo calculados para cada amostra dependendo de seu tamanho. O presente trabalho também faz uma análise de capacidade do processo, utilizando, para isso, índices de capacidade para dados não-normais. O método proposto foi aplicado em uma indústria do setor metalúrgico.